Chroma 3280 測試分類機為所有的SD卡類產(chǎn)品帶來了一 個創(chuàng)新的測試方法，而這高效率的測試方法也為 客戶帶來大幅降低生產(chǎn)成本的好處。此外，小機 臺的設(shè)計更可節(jié)省機臺于測試廠之占地面積。整合了測試機臺與自動分類機的功 能，并采用創(chuàng)新的設(shè)計，滿足采用KGD生產(chǎn)的SD 卡類產(chǎn)品的測試需求，不論是在機臺的成本或是 體積上，都比傳統(tǒng)的測試機臺來的大幅降低，因 此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。

SD卡類制造商了解在SD卡的制程 中必須采用Known Good Die(KGD)來進行生產(chǎn)。 其主要的原因，乃是因為采用KGD生產(chǎn)的SD卡類 產(chǎn)品，將可減少在成品測試中對于測試項目的要 求，只需針對成品封裝過程中所可能產(chǎn)生的瑕疵 進行檢測，而不需要再對整個晶片進行完整的測 試。

Chroma 3280 測試分類機的特色：

• 整合SD卡測試機與自動分類機功能
• 平行測試120個micro SD卡
• Test-In-Tray
• UPH = 5400 (以70秒的測試時間為例)
• 支援SD卡資料通訊協(xié)定
• 支援DC參數(shù)量測功能
• Microsoft Windows XP OS
• 提供Tray Map與分類結(jié)果資訊
• 小機臺體積 : 164cm x 79cm x 180cm
• 選配設(shè)備
• 3rd Party測試模組整合
• Mini SD, SD與MMC的測試介面